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系统基于全制式全覆盖的测试能力可解决物联网产业链的测试难题，具体包括芯片模组测试、基站综合测试、产线测试等多个环节。典型测试场景如下：发射机指标测试：UE发射功率UE指的是NB-IOT的终端产品，包括NB-IOT模块以及使用了这些模块的各种终端。UE占用带宽，占用带宽指的是分配信道之内测量的99%积分平均功率时对应的信号带宽。NB-IOT下行信号占用带宽典型测试UE发射ACLR相邻信道泄漏比，这个测来判定终端产品是否有可能对相邻(或高或低)信道中的接收机产生干扰。
在考虑上述问题之后就能确定选用何种类型的传感器，然后再考虑传感器的具体性能指标。频率响应特性五金传感器的频率响应特性决定了被测量的频率范围，必须在允许频率范围内保持不失真的测量条件，实际上传感器的响应总有—定延迟，希望延迟时间越短越好。传感器的频率响应高，可测的信号频率范围就宽，而由于受到结构特性的影响，机械？系统的惯性较大，因有频率低的传感器可测信号的频率较低。在动态测量中，应根据信号的特点（稳态、瞬态、随机等）响应特性，以免产生过火的误差灵敏度的选择通常，在传感器的线性范围内，希望传感器的灵敏度越高越好。
很多人对直角走线都有这样的理解，认为 容易发射或接收电磁波，产生EMI，这也成为许多人认为不能直角走线的理由之一。然而很多实际测试的结果显示，直角走线并不会比直线产生很明显的EMI。也许目前的仪器性能，测试水平制约了测试的性，但至少说明了一个问题，直角走线的辐射已经小于仪器本身的测量误差。总的说来，直角走线并不是想象中的那么可怕。至少在GHz以下的应用中，其产生的任何诸如电容，反射，EMI等效应在TDR测试中几乎体现不出来，高速PCB设计工程师的重点还是应该放在布局，电源/地设计，走线设计，过孔等其他方面。
在现实情况下，差分信号通过集成电路(IC)封装、外部器件、不同的PCB结构、连接器和电缆连接子系统进行传播。实现完全对称的差分对是件不太容易的事情。在以后的博文中，我将讨论差分对设计的方案，以及限度减少发射信号失真的技术。德州仪器(TI)拥有完整的高速信号调理IC产品线，诸如重定时器（Retimer）和驱动器(Redriver)。它们在解决所有类型实际差分对设计时碰到的不理想情况，和高插入损耗情况大有帮助，从而在现代系统中实现了可靠数据通信并延长了传输距离。
测试图IT65C/D模拟量接口电源上升时间的测试电源上升时间与机时间的区别，上升时间（RiseTim：电压从没有上升至稳定的这段时间（一般量测输出电压的上下限为1%~9%或5%~95%），如上图所示，Va为输出电压的1%，Vb为输出电压的9%，Va，Vb之间的时间即为机电压上升时间。测试方法：启动测试：选择启动测试触发源为电平触发方式，触发电平设定为Va，当待测电源输出电压达到Va时，始测试；结束测试：选择结束测试触发源为电平触发方式，触发电平设定为Vb，当待测电源输出电压达到Vb时，停止测试；负载计算出两个触发信号之间的时间差，即为待测电源的上升时间。
在选择照度计时，因为照度计使用的场所非常广泛，运用的时机也常在不同的场合，所以可携带式体积小、重量轻为照度计的先决条件。HT-13系列照度计袖珍型便携式设计，可以随身携带，方便你在不同场所使用，31/2位数字液晶显示屏，便于快速 读取读数。照度计的良莠与否，和它的准确度有的关系。以合理的价格个准确度较高的照度计是每个用户的的选择。照度计是一款式专业测量光度的数字照度计，符合CIE光谱响应要求。
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